秦皇岛招聘:存储器体系及其操纵要领与流程

新2备用网址/2020-04-15/ 分类:科技/阅读:

本发现的各个示例性实验例总体涉及一种存储器体系。出格地,实验例涉及一种处理赏罚关于存储器装置的数据的存储器体系及其操纵要领。



配景技能:

计较机环境典型已经转酿成使计较机体系可随时随地行使的普适计较。因此,诸如移动电话、数码相机和条记本电脑/膝上型计较机的便携式电子装置的行使已经敏捷增进。这些便携式电子装置凡是利器具有一个或多个存储器装置的存储器体系来存储数据。存储器体系可用作便携式电子装置的主存储装置或帮助存储装置。

由于这种存储器体系没有移动部件,以是它们可提供精良的不变性、耐用性、高信息存取速率以及低功耗。具有这种利益的存储器体系的示例包罗通用串行总线(usb)存储器装置、具有各类接口的存储卡以及固态驱动器(ssd)。



技能实现要素:

各个实验例涉及一种存储器体系及其操纵要领,其可以或许使存储器体系的伟大性和机能劣化最小化而且使存储器装置的行使遵从最大化,从而快速且不变地处理赏罚关于存储器装置的数据。

在实验例中,一种存储器体系可包罗:存储器装置,包罗多个存储块,每一个存储块具有多个页面;以及节制器,适于节制存储器装置以在页面中实行编程操纵,存储器装置可搜查被编程页面的编程电压漫衍,而且可搜查被编程页面中的失效位,而且节制器可确认编程操纵中的部门编程乐成,而且可在存储块中对对应于部门编程乐成的第一数据实行复制操纵。

存储器装置可搜查各个编程电压漫衍的失效位,可对各个编程电压漫衍的失效位的失效位数目举办计数,而且可按照失效位数目来确认部门编程乐成。

存储器装置可对各个编程电压漫衍组的各个编程电压漫衍的失效位数目举办求和,而且可将求和失效位数目小于阈值的编程电压漫衍组确以为对应于部门编程乐成的部门乐成编程电压漫衍组。

存储器装置可通过将第一编程电压漫衍组的第一求和失效位数目、第二编程电压漫衍组的第二求和失效位数目和第三编程电压漫衍组的第三求和失效位数目举办求和,来对各个编程电压漫衍组的各个编程电压漫衍的失效位数目举办求和。

第一编程电压漫衍组可包罗与存储块中的最低有用位(lsb)页面相对应的编程电压漫衍,第二编程电压漫衍组可包罗与存储块中的中心有用位(csb)页面相对应的编程电压漫衍,而且第三编程电压漫衍组可包罗与存储块中的最高有用位(msb)页面相对应的编程电压漫衍。

阈值可暗示节制器的最大错误校正手段。

节制器可从存储器装置吸取指示部门编程乐成的状况信号,可对应于该状况信号确认编程操纵中的部门编程乐成,可辨认对应于部门乐成编程电压漫衍组的第一存储块的第一页面,而且读取存储在第一页面中的第一数据并对存储在第一页面中的第一数据举办错误校正。

节制器可节制存储器装置以将被错误校正的第一数据存储在第一存储块的第二页面和第二存储块的第一页面中的至少一此中。

第一数据可所以存储在第一页面中的整个数据和存储在第一页面之中包罗失效位的页面中的数据中的一个。

存储器装置可搜查编程电压漫衍之中的最高电平编程电压漫衍,而且当最高电平编程电压漫衍是通过(pass)时,可搜查剩余编程电压漫衍中的失效位。

存储器体系可进一步包罗:搜查部件,适于通过电流感测电路(csc)搜查存储块中的编程电压漫衍,并将指示部门编程乐成的状况信号输出到节制器,而且可包罗:操纵搜查部件,包罗电流感测电路,并适于搜查编程电压漫衍;计数器,适于对编程电压漫衍中的失效位举办计数;求和部件,适于对所计数的失效位的失效位数目举办求和;较量器,适于将失效位数目的求和失效位数目与阈值举办较量;以及存储装置,适于存储失效位数目、求和失效位数目和阈值。

在实验例中,一种操纵存储器体系的要领可包罗:对包罗多个存储块的存储器装置实行编程操纵,每一个该存储块具有多个页面;搜查被编程页面的编程电压漫衍;搜查被编程页面中的失效位;对应于编程操纵中的失效位,确认部门编程乐成;而且在存储块中对对应于部门编程乐成的第一数据实行复制操纵。

搜查失效位可包罗:搜查各个编程电压漫衍的失效位;对各个编程电压漫衍的失效位的失效位数目举办计数;而且对各个编程电压漫衍组的各个编程电压漫衍的失效位数目举办求和。

确认部门编程乐成可包罗:按照失效位数目确认部门编程乐成;而且将求和失效位数目小于阈值的编程电压漫衍组确以为对应于部门编程乐成的部门乐成编程电压漫衍组。

阈值可暗示存储器装置的节制器的最大错误校正手段。

实行复制操纵可包罗:对应于指示部门编程乐成的状况信号辨认对应于部门乐成编程电压漫衍组的第一存储块的第一页面;读取存储在第一页面中的第一数据并对存储在第一页面中的第一数据举办错误校正;而且将被错误校正的第一数据存储在第一存储块的第二页面和第二存储块的第一页面中的至少一此中。

第一数据可所以存储在第一页面中的整个数据和存储在第一页面之中包罗失效位的页面中的数据中的一个。

对各个编程电压漫衍组的各个编程电压漫衍的失效位数目举办求和可包罗:对第一编程电压漫衍组的第一求和失效位数目、第二编程电压漫衍组的第二求和失效位数目和第三编程电压漫衍的第三求和失效位数目举办求和。

第一编程电压漫衍组可包罗与存储块中的最低有用位(lsb)页面相对应的编程电压漫衍,第二编程电压漫衍组可包罗与存储块中的中心有用位(csb)页面相对应的编程电压漫衍,而且第三编程电压漫衍组可包罗与存储块中的最高有用位(msb)页面相对应的编程电压漫衍。

搜查失效位可包罗:搜查编程电压漫衍之中的最高电平编程电压漫衍,而且当最高电平编程电压漫衍通过期,搜查剩余编程电压漫衍中的失效位。

在实验例中,一种存储器体系可包罗:存储器装置和节制器,个中存储器装置包罗:第一和第二逻辑页面;以及外围电路,适于:对第一逻辑页面实行编程和验证操纵;当验证操纵失败时,实行对第一逻辑页面的失效位数目举办计数的计数操纵;而且当失效位数目小于节制器的错误校正手段时,实行将第一逻辑页面的被错误校正的数据编程到第二逻辑页面中的编程操纵;而且节制器适于:节制编程、验证、计数和复制操纵;确定验证操纵是否失败,以及失效位数目是否小于错误校正手段;而且对第一逻辑页面的数据举办错误校正。

附图声名

由参照附图的以下详细实验方法,本发现的这些和其余特性及利益对付本发现所属规模的技强职员将变得显而易见,个中:

图1是示出按照本发现的实验例的包罗存储器体系的数据处理赏罚体系的框图;

图2是示出图1所示的存储器体系中回收的存储器装置的示例性设置的表示图;

图3是示出图2所示的存储器装置中的存储块的存储器单位阵列的示例性设置的电路图;

图4是示出图2所示的存储器装置的示例性三维布局的表示图;

图5至图9是按照实验例的用于辅佐声名存储器体系中的数据处理赏罚操纵的表示图的示例;

图10是描写按照实验例的存储器体系中处理赏罚数据的操纵进程的表示性流程图;

图11至图19是表示性示出按照本发现的各个实验例的图1所示的数据处理赏罚体系的应用示例的示图。

详细实验方法

扩展阅读:
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